所有半導體器件都存在一定的失效比例，在高可靠性要求下，通過老化或者溫循環等環境下的在線篩選，是一種非常有些的手段，特別是高速、功耗大的器件，如激光器等，老化測試是制造工序中非常重要的一個步驟。

       傳統老化設備往往僅僅加溫而不加電老化或者集中供電老化，通常存在一些問題：

·老化過程不可見：不能對每一個被老化單元進行實時監測和記錄；

·老化過程不可控：不能對每個老化單元進行獨立控制調節；

·老化過程難追溯：對于歷史過程，難以對當時場景比如溫度、插槽、托架、背板、操作員、執行的腳本等等進行追溯，因此也難以進行更高級別的數據分析；

·集成度低：環境控制、測試工裝夾具、測試電路、控制軟件、人機界面等模塊配合度低，整體性、系統性程度低，導致不好使用，難以維護。

針對目前老化測試現存的問題，固捷Soliware團隊致力于研發出一套快速、統一、高效的測試系統，滿足固態存儲設備研發、生產和大規模應用的需求。