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半導體行業的老化測試現狀及固捷的愿景

返回列表 來源:武漢固捷聯訊科技有限公司 瀏覽:787 發布日期:2021-03-08

所有半導體器件都存在一定的失效比例,在高可靠性要求下,通過老化或者溫循環等環境下的在線篩選,是一種非常有些的手段,特別是高速、功耗大的器件,如激光器等,老化測試是制造工序中非常重要的一個步驟。

       傳統老化設備往往僅僅加溫而不加電老化或者集中供電老化,通常存在一些問題:

·老化過程不可見:不能對每一個被老化單元進行實時監測和記錄;

·老化過程不可控:不能對每個老化單元進行獨立控制調節;

·老化過程難追溯:對于歷史過程,難以對當時場景比如溫度、插槽、托架、背板、操作員、執行的腳本等等進行追溯,因此也難以進行更高級別的數據分析;

·集成度低:環境控制、測試工裝夾具、測試電路、控制軟件、人機界面等模塊配合度低,整體性、系統性程度低,導致不好使用,難以維護。

針對目前老化測試現存的問題,固捷Soliware團隊致力于研發出一套快速、統一、高效的測試系統,滿足固態存儲設備研發、生產和大規模應用的需求。


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